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sylvia_Chou
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xiao_田

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答化反应能改变反应物化反应速率(提高或降低)改变化平衡且本身质量化性质化反应前都没发改变物质叫催化剂(固体催化剂叫触媒)据统计约90%工业程使用催化剂化工、石化、化、环保等催化剂种类繁按状态液体催化剂固体催化剂;按反应体系相态均相催化剂相催化剂均相催化剂酸、碱、溶性渡金属化合物氧化物催化剂催化剂现代化工业占极其重要位例合氨产采用铁催化剂硫酸产采用钒催化剂乙烯聚合及用丁二烯制橡胶等三合材料产都采用同催化剂

有机合成论文要几种表征方式

247 评论(12)

陆桂斌

常见的或者可以买到的原料、试剂是不用表征的。如果你自己合成的、比较重要的中间产物及最终产物,都需要结构表征。表征就是你做的核磁、红外、质谱的数据指认,确定结构的一个过程。具体地可以参见想发表刊物上的其它类似论文是怎么写的。话说,都要发表文章了,连结构表征都不知道,似乎不太应该啊。你平时合成出一个物质来,怎么确定它的结构呢?
221 评论(11)

huang17qi

论文的种类分为哪几种?全国最大最靠谱的我看到:通知:部分论文考试答辩取消、条件放宽。查阅各省最新政策可搜:全国论文办郑州郑密路20号办(简称、统称,搜索可查各省全部政策,在百度、360、搜狗58-68页,也可搜17年前的:全国论文办郑州郑密路18号)、全国职称办郑州郑密路20号办、高级职称全国办郑州郑密路20号办、毕业论文全国办郑州郑密路20号办。 搜:高级经济师全国办郑州郑密路20号办、高级会计师全国办郑州郑密路20号办、高级农经师全国办郑州郑密路20号办、高级审计师全国办郑州郑密路20号办、高级统计师全国办郑州郑密路20号办、高级政工师全国办郑州郑密路20号办、高级工程师全国办郑州郑密路20号办、高级教师全国办郑州郑密路20号办、高级人力资源管理师全国办郑州郑密路20号办。在百度、360、搜狗58-68页。 查阅最新政策、论文(选题、题目、范文、辅导)、报考条件、评审条件、考试科目、大纲,搜:高级经济师最新政策全国办郑州郑密路20号办、高级经济师论文全国办郑州郑密路20号办、高级经济师论文选题全国办郑州郑密路20号办、高级经济师论文题目全国办郑州郑密路20号办、高级经济师论文范文全国办郑州郑密路20号办、高级经济师论文辅导全国办郑州郑密路20号办、高级经济师报考条件全国办郑州郑密路20号办、高级经济师评审条件全国办郑州郑密路20号办、高级经济师考试科目全国办郑州郑密路20号办、高级经济师考试大纲全国办郑州郑密路20号办。 后面把“高级经济师”依次换成“高级会计师、高级农经师、高级审计师、高级统计师、高级政工师、高级工程师、高级教师、高级人力资源管理师等”再搜。在百度、360、搜狗58-68页。详搜:中国职称大学郑州郑密路20号全国办、郑州论文大学郑密路20号全国办、郑州职称论文大学郑密路20号全国办、郑州高级职称论文大学郑密路20号全国办、河南职称论文大学郑密路20号全国办、河南高级经济师学院郑州郑密路20号全国办、河南高级会计师(农经师、审计师、统计师、政工师、工程师、教师、人力资源管理师等)学院郑州郑密路20号全国办。
286 评论(13)

phoenix8848

1、粉末X射线衍射法,除了用于对固体样品进行物相分析外,还可用来测定晶体 结构的晶胞参数、点阵型式及简单结构的原子坐标。X射线衍射分析用于物相分析 的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d以及它们的相对强度Ilh是物 质的固有特征。而每种物质都有特定的晶胞尺寸和晶体结构,这些又都与衍射强 度和衍射角有着对应关系,因此,可以根据衍射数据来鉴别晶体结构。此外,依 据XRD衍射图,利用Schercr公式:,K,, (2), Lcos,式中p为衍射峰的半高宽所对应的弧度值;K为形态常数,可取94或89。为X 射线波长,当使用铜靶时,又54187 A; L为粒度大小或一致衍射晶畴大小;e为 布拉格衍射角。用衍射峰的半高宽FWHM和位置(2a)可以计算纳米粒子的粒径。2、热分析表征。热分析技术应用于固体催化剂方面的研究,主要是利用热分析跟踪氧化物制 备过程中的重量变化、热变化和状态变化。本论文采用的热分析技术是在氧化物 分析中常用的示差扫描热法(Differential Scanning Calorimetry, DSC)和热重法( Thermogravimetry, TG ),简称为DSC-TG法。采用STA-449C型综合热分析仪(德,10国耐驰)进行热分析,N2保护器。升温速率为10 Cin 。3、扫描隧道显微镜法。扫描隧道显微镜有原子量级的高分辨率,其平行和垂直于表面方向的分辨率 分别为1 nm和01nm,即能够分辨出单个原子,因此可直接观察晶体表面的近原子像;其次是能得到表面的三维图像,可用于测量具有周期性或不具备周期性的 表面结构。通过探针可以操纵和移动单个分子或原子,按照人们的意愿排布分子 和原子,以及实现对表面进行纳米尺度的微加工。4、透射电子显微镜法。透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小、分布状况、粒径分布范 围等,并用统计平均方法计算粒径,一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不 是晶粒度。高分辨电子显微镜(HRTEM)可直接观察微晶结构,尤其是为界面原 子结构分析提供了有效手段。它可以观察到微小颗粒的固体外观,根据晶体形貌 和相应的衍射花样、高分辨像可以研究晶体的生长方向。测试样品的制备同SEM 样品。本研究采用 JEM-3010E高分辨透射电子显微镜(日本理学)分析晶体结构, 加速电压为200 kV 。5、X射线能量弥散谱仪法。每一种元素都有它自己的特征X射线,根据特征X射线的波长和强度就能得出定性和定量的分析结果,这是用X射线做成分分析的理论依据。EDS分析的元 素范围Be4-U9a,一般的测量限度是01%,最小的分析区域在5~50A,分析时间几分钟即可。X射线能谱仪是一种微区微量分析仪。参考资料来源:知网—表征手段参考资料来源:知网—材料表征
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